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一、滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
·GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫。
·GJB150.4A-2009軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)。
·GB10589-1989    低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
·GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫。
·GJB150.3A-2009軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)。
·GB11158-2008-T 高溫試驗(yàn)條件
·GB2423.22-1987  溫度變化試驗(yàn)方法
·GJB 1032-90 電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法。
·GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試     驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
·GB10592.2-1989高低溫試驗(yàn)條件